中心测量精度可达±0.5"，全量程误差控制优异，满足精密光学实验室严苛检测标准。
标准机型视场范围1°~3°，适配各类光学元件、光路平行度检测场景。
整机体积紧凑，支持独立放置或搭配多维调节支架安装，携带、架设灵活。
搭载650nm半导体内部激光，可一键切换内/外部光源两种测量模式。
适配全系激光自准直仪，功能完整易操作:三种测量模式:单目标、多目标、A点基准模式，最多同步追踪5组光斑界面可自由缩放，自动计算目标相对差值，实时显示测量数据，测量数据一键导出Excel，历史记录本地存档，方便溯源归档适配Windows系统，可根据需求定制软硬件功能.
两款焦距规格可选，满足不同检测距离需求，高精度面阵探测器，测量稳定可靠，外形尺寸小巧，适配产线、实验室多种环境。
专业用于光学角度测量、多光束光斑平行度检测，广泛应用于精密光学加工、光学实验室、高校科研、光学校准产线。
