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扫描探针自准直仪即表面分析仪器?它有哪些优点与缺点?-----新闻标题
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Scanning Probe Microscope即扫描探针自准直仪,也可以称是表面分析仪器。是综合运用光电子技术、激光技术、等现代科技成果的光、机、电一体化的高科技产品 。

当然除了扫描探针自准直仪,还有原子力自准直仪AFM,激光力自准直仪LFM,磁力自准直仪MFM等等一系列的高科技产品。

在此着重说明扫描探针自准直仪的优点与缺点:

1.它的最大优点便是可以成三维的样品表面图像,还可对材料的各种不同性质进行研究。
2.极高的分辨率
3.使用环境宽松
4.应用领域是宽广
5.价格相对于电子自准直仪等大型仪器来讲是较低的

然事物不都是精美的,它也有缺陷的地方
1.扫描速度受到限制, 测效率较其他光电准直仪技术低
2.不可以像电子自准直仪的大范围连续变焦
3.定位和寻找特征结构比较困难
4.对样品表面的粗糙度有较高的要求
5.探针的几何宽度、曲率半径及各向异性会引起成像的失真

 
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